Ｘ荧光光谱仪EDX860D

产品说明

产品介绍

本仪器专门针对贵金属测试，可测试环形样品内壁及普通平面测试，具有以下特点：体积小巧，外型庄重大方，手动升降平台满足不同大小样品的测试，样品固定方便快捷，可方便更换准直器，准直器直径为1.5mm，可测试较小区域，下照式，大窗口正比计数盒保证计数率满足分析需要，宽阔样品腔可满足较大样品的测试，摄像头激光精确定位实现可视化定位，良好的射线屏蔽确保操作人员。

应用领域
首饰加工厂
金银珠宝首饰店
贵金属冶炼厂
质量检验部门
分析测试中心
典当行

XRF检测法与传统检测法比较

核心技术

1.大功率光管；
2. 超大窗口面积正比计数盒；
3. 外型小巧，庄重大方；
4. 宽阔样品腔，方便操作及测试较大样品；
5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品；
6．小准直器，利于测试样品小区域；
7. 摄像头与激光定位，可视地准确定位到被测点，测试时激光点自动关闭，利于拍摄清晰照片；
8. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。

仪器技术指标：

分析含量一般为1ppm到99.9％；
任意多个可选择的分析和识别模型；
相互独立的基体效应校正模型；
多变量非线性回归程序；
多次测量重复性可达0.1％；
长期工作稳定性为0.1％。
电源：交流220V±5V；
测量时间：60-200S
管压：5-50KV
管流：50-1000μA
温度适应范围：15℃-30℃

标准配置：

正比计数盒；
50W X光管；
高压电源 50kV@1mA；
摄像头激光定位装置；
高灵敏度信号检测电子电路；
手动升降平台；
样品夹；
橡皮泥；
准直器直径为1.5 mm。

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